Instrumentation Circuits


Le domaine Instrumentation Circuits de la plateforme PLATINOM du laboratoire XLIM permet aux chercheurs, au monde académique et industriel d’accéder à des moyens de mesures de métrologie linéaire et non linéaire à la pointe de la technologie.

Ce plateau technique regroupe un ensemble d’équipements et de bancs de mesures de dispositifs micro-ondes et sub-millimétriques permettant la caractérisation de composants, de circuits et de matériaux dédiés à des applications dans le domaine des télécommunications, de l’espace, la défense et la sécurité.

L’ensemble de ces équipements constitue un élément fondamental aux travaux de recherches développés au sein des différents axes et équipes de l’institut XLIM.

Damien PASSERIEUX

Responsable

05 87 50 68 39

Métrologie Linéaire

Bancs de mesures de fonctions de transfert (paramètres S) Ces bancs permettent de caractériser des composants, des circuits et des systèmes dans le domaine des radio fréquences, de quelques dizaines de MHz à quelques centaines de GHz. Caractéristiques: Bandes de fréquences : 10 MHz – 330 [...]

Métrologie Non-Linéaire

Bancs de mesures fréquentielles / temporelles : en puissance CW Load-Pull 1 GHz – 40 GHz et signaux modulés (EVM, ACPR, NPR) 1 GHz – 50 GHz Ces bancs de mesures permettent de caractériser des dispositifs actifs en puissance en mode CW ou signaux modulés et dans le domaine [...]

Caractérisation de matériaux

Bancs de caractérisation de matériaux jusqu’à 330 GHz Ces bancs permettent de caractériser des matériaux de quelques centaines de MHz à 330 GHz et d’obtenir les permittivités diélectriques ɛ et tangentes de pertes diélectriques tgδ. Caractéristiques: Bandes de fréquences : 2 GHz – [...]

Tests et montages de composants

Réalisation de Wire Bonding Ce type de réalisation technologique consiste à connecter deux points d’un dispositif par thermocompression avec un fil d’or de diamètre de l’ordre de quelques dizaines de micromètres en réglant des niveaux de température, force et pression en fonction des matériaux [...]

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Instruments et bancs de caractérisation disponibles

Constitué d’un analyseur de réseau vectoriel Keysight PNAX 4 ports 67GHz, de 2 convertisseurs millimétriques Tx/Rx Olesson ainsi que d’une cellule de test Swissto12.

Mesures de dispositifs hyperfréquences on-wafer (jusqu’à 4 accès RF) : Analyseur de réseau vectoriel Keysight PNAX 67 GHz, station sous pointes RF MPI TS200-SE manuelle et câbles hyperfréquences et pointes RF Infinity (FormFactor)

Analyseur de réseau vectoriel Keysight PNAX 4 ports 67GHz, convertisseurs millimétriques Tx/Rx Olesson (2), station sous pointe RF PM8 manuelle, câbles hyperfréquences et pointes RF Infinity (FormFactor)

Mesures en alimentation DC de dispositifs hyperfréquences on-wafer (jusqu’à 4 accès RF et 4 polarisations DC). Ce banc est constitué d’un analyseur de réseau vectoriel Keysight PNAX 67 GHz, d’une station sous pointes RF MPI TS200-SE manuelle, d’alimentations DC en rack Keysight N6701C.

Caractérisation de matériaux (110 -170 GHz)

Caractérisation multiports en paramètres S

Caractérisation de composants on-wafer (paramètres S , 110-170 GHz

Banc de caractérisation multiports en paramètres S

 Mesures dans le domaine des fréquences millimétriques (70 GHz -110 GHz) : Analyseur de réseau vectoriel Keysight PNAX 4 ports 67GHz, de 2 convertisseurs millimétriques Tx/Rx VDI, station sous pointe RF MPI TS200-SE manuelle,

Mesures dans le domaine des fréquences millimétriques (70 GHz -110 GHz) : Analyseur de réseau vectoriel Keysight PNAX 4 ports 67GHz, de 2 convertisseurs millimétriques Tx/Rx VDI, station sous pointe RF PM8 manuelle de chez FormFactor

Constitué d’un analyseur de réseau vectoriel Keysight PNAX 67 GHz, d’une station sous pointes RF Cascade Microtech Summit 9000 manuelle, d’alimentations DC en rack Keysight N6701C ainsi que de câbles hyperfréquences et de pointes RF Infinity de chez FormFactor.

Constitué d’une BILT avec sonde Grille et Drain de la société AMCAD, d’une station sous pointes thermique CASCADE MICROTECH MPS 150, ainsi que de câbles hyperfréquences, de Bias Tee de chez Agilent et de pointes RF de chez FormFactor.

Caractérisation de composants on-wafer (paramètres S)

Caractérisation de composants on-wafer en paramètres S

Caractérisation de LNA (Low Noise Amplifier 50GHz)

Caractérisation de composants en I (Intensité) / V (Courant) impulsionnelle

Mesure de composants non linéaires de type transistors (régime transitoire). Ce banc est constitué d’un générateur de pulse Agilent, d’alimentations DC Agilent et  d’une station sous pointes thermique CASCADE MICROTECH MPS 150.

Ce banc est principalement composé du mesureur de thermoréflectance Microsanj NT-110

Banc de caractérisation IDLTS

Banc de mesure de Thermoréflectance

Site de réservation

Savoir-faire et prestations

Métrologie linéaire :

– Mesures de paramètres [S] 10 MHz – 330 GHz

– Mesures de Facteur de Bruit (NF 50 ohms + paramètres [S]) 10 MHz – 50 GHz

Métrologie non-linéaire :

– Mesures fréquentielles / temporelles en puissance CW Load-Pull 1 GHz – 40 GHz (gain, rendement, harmoniques, IMD)

– Mesures fréquentielles / temporelles en puissance signaux modulés ( EVM, ACPR, NPR) 1 GHz – 50 GHz

– Mesures IV Impulsionnel

– Mesures IDLTS

– Mesures thermoréflectance

Caractérisation de matériaux :

– Caractérisation de matériaux jusqu’à 330 GHz

Tests et montages de composants :

– Réalisation de Wire Bonding

Ressources
Videos, visite virtuelle, publications de référence

Publications de référence :

– Design and Additive Microfabrication of a Two-Pole 287-GHz Waveguide Bandpass Filter IEEE Microwave and Wireless Components Letters, 2020, 30 (1), pp.20-22.

https://doi.org/10.1109/LMWC.2019.2955595

– Non-Linear Simulation by Harmonic Balance Techniques of Load Modulated Power Amplifier Driven by Random Modulated Signals, Electronics, 2024, 13 (5), pp.947.

https://doi.org/10.3390/electronics13050947

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