Science des Procédés Céramiques et de Traitements de Surface (SPCTS)

Partenaires

Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
Université de Limoges
Ecole Nationale Supérieure de Céramique Industrielle (ENSCI)


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Plateforme « Analyse X »

L’activité scientifique

  • Analyse qualitative : vérification, recherche et caractérisation de phases
  • Analyse quantitative : dosage de phases
  • Analyse structurale :
    • Détermination structurale de nouveaux composés céramiques sur poudre ou sur monocristal
    • Modélisation structurale des verres
  • Analyse microstructurale : microcontraintes, défauts, taille des grains, organisation interparticulaire…
  • Quelques publications significatives :

    • Etude des hétérostructures épitaxiales  :
      Characterization of stacking faults in thick 3C-SiC crystals using high resolution diffuse X-ray scattering,
      J. Cryst. Growth, 2008, 310, 982-987
    • Etude des matériaux à base d’oxyde de tellure pour l’optique non-linéaire  :
      GeTe2O6, a germanium tellurate (IV) with an open framework,
      Acta Cryst. Section C, 2009, C65, i23-i26
    • Thème transversal “Dispositifs multi-échelles et multi-matériaux pour les nouvelles technologies de production d’énergie”  :
      Lanthanum- and oxygen- deficient crystal structures of oxide-ion conducting apatite- type silicates,
      J. Am. Ceram. Soc., 2008, 91, 3714-3720
    • Thème transversal “Matériaux haute température et réactivité des solides”  :
      Role of boron on the spark plasma sintering of an a-SiC powder,
      J. Eur. Ceram. Soc., 2008, 28, 1881-1890
    • Action transversale SPCTS-GEMH :
      Structural transformations of muscovite at high temperature by X-ray and neutron diffraction,
      Appl. Clay Sci., 2008, 38, 259-267


Les moyens

  • Les moyens humains

La plateforme RX dispose de 2 ingénieurs (1 IE Université et 1 IE ENSCI).

  • L’équipement

La plateforme RX est dotée de 9 montages différents :

    • Montages commerciaux :
    • - 2 diffractomètres sur poudre en géométrie Bragg-Brentano (Theta -2 Theta)
      Diffractomètre Bruker D5000
      Diffractomètre nouvelle génération Bruker D8 Advance équipé d’un four 1200°C
      - Diffractomètre en géométrie Debye-Scherrer INEL avec détecteur courbe CPS 590
      - Diffractomètre 4 cercles pour monocristaux : Nonius Kappa CCD

    • Montages spécifiques développés au laboratoire :
    • - Montage de diffusion centrale
      - Diffractomètre en géométrie Debye-Scherrer avec détecteur courbe INEL CPS 120
      - Montage de diffusion totale
      - Diffractomètre haute résolution sur couches épitaxiées
      - Montage de réflectométrie

  • Logiciels

La plateforme RX utilise des logiciels commerciaux modernes (Diffrac, Topas, …) mais également des logiciels originaux développés au sein du laboratoire (Peakoc, XTSScan, …).


Les utilisateurs

Ces moyens sont à la disposition du CEC (SPCTS, GEMH, ENSCI), mais la plateforme propose aussi, en externe, des expertises, des prestations de service et des actions de formation continue comme l’assurent actuellement les services communs RX du SPCTS et de l’ENSCI.


© SPCTS - Centre Européen de la Céramique - 12 Rue Atlantis - 87068 LIMOGES Cedex - Tél : 05 87 50 23 03 - Fax : 05 87 50 23 09 - Courriel : spcts unilim.fr