Science des Procédés Céramiques et de Traitements de Surface (SPCTS)

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Etude structurale et modélisation des chemins et des mécanismes de conduction dans les silicates de lanthane La9.33(SiO4)6O2

Contact

Olivier MASSON : olivier.masson unilim.fr


Contexte/objectifs

Cette activité concerne l’étude structurale et la modélisation à l’échelle atomique des silicates de lanthane dans le but de comprendre l’origine de leurs propriétés de conduction. Nos méthodes d’investigations reposent sur les techniques de diffraction des rayons X et diffusion Raman et les méthodes de simulation semi-empiriques et ab-initio (DFT). Nous nous attachons à établir à la fois des modèles de conduction permettant de reproduire les valeurs expérimentales d’énergie d’activation de la conductivité et de mettre en évidence des modifications structurales associées.

Chemin de conduction des ions oxydes vu le long de l’axe c


Activités

  • Caractérisation structurale fine des silicates de lanthane par diffraction des rayons X et diffusion Raman.
  • Modélisation à l’échelle atomique des silicates de lanthane à l’aide de méthodes empiriques, semi-empirique et ab-initio.
  • Etude des corrélations entre structure et propriétés de conduction.


Faits marquants

  1. T. Iwata, K. Fukuda, E. Béchade, O. Masson, I. Julien, E. Champion and P. Thomas
    Solid State Ionics, 178, 2007, Pages 1523-1529

  2. E. Béchade, O. Masson, T. Iwata, I. Julien, K. Fukuda, P. Thomas and E. Champion
    Chem. Mater., 21, 2009, Pages 2508-3720

  3. M. Smirnov, S. Sukhomlinov, A. Mirgorodsky, O. Masson, E. Béchade, M. Colas, T. Merle-Méjean, I. Julien, P. Thomas
    J. Raman Spectr., 181, 2010, Pages 1024-1032

  4. K. Fukuda, T. Asaka, R. Hamaguchi, T. Suzuki, H. Oka, A. Berghout, E. Béchade, O. Masson, I. Julien, E. Champion, P.Thomas
    Chem. Mater., 23, 2011, Pages 5474

Mis à jour le 2 avril 2012

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